Measuring, Logging and Mapping Yield - výberová prednáška

Téma: Measuring, Logging and Mapping Yield - výberová prednáška
Prednášajúci: Dr. Thilo Steckel, CLAAS - Research Management & External Relations | Technology Strategy, CLAAS E-Systems GmbH
Dátum a čas: 17. 4. 2024, 9.00 h
Miesto: SPU v Nitre, Tr. A. Hlinku 2, cvičebňa AC-02
Prednáška je relevantná k študijnému odboru strojárstvo.

Ísť späť